国家知识产权局信息显示,上海思汀电子科技有限公司取得一项名为“一种芯片测试治具”的专利,授权公告号CN224081757U,申请日期为2025年3月。专利摘要显示,本实用新型公开了一种芯片测试治具,包括芯片测试治具座体,所述芯片测试治具座体的上方的一侧设有显示屏,所述显示屏的下方设有启停按钮,所述芯片测试治具座体的上方的另一侧设有芯片测试盒,所述芯片测试盒的内部的中间位置设有芯片测试槽,所述芯片测试盒的上方设有盒盖,所述盒盖的内部的中间位置设有芯片按压块。该实用新型中在芯片按压块的内部设有加紧块,且加紧块是利用弹簧的特性控制芯片按压块自动伸缩,使芯片按压块具有一定的弹性,而弹簧的弹力方向与盒盖的向下闭合的方向相反,形成一个相对的力,从而对芯片加紧固定,不需要单独对芯片进行加紧固定,省去一个步